Dimension Icon AFM-Raman联用系统汇集了原子力显微镜和拉曼显微镜的优势，能提供有关样品形貌和化学成分的关键信息。当这些技术与先进的 AFM成像模式（例如布鲁克独家 PeakForce TUNA纳米电学技术和PeakForce QNM®定量纳米力学技术）相结合时，研究人员能够更好地研究材料特性形成的机制。
配置稳定性和灵活性
AFM-Raman 系统由Dimension Icon® AFM和研究级共聚焦拉曼显微镜（Renishaw的InVia或Horiba的LabRam）组成，置于单个刚性、抗振动一体化的减震平台上。此配置既保留了各个仪器的全部功能，还提供最佳的组合性能。例如，该配置支持Dimension Icon系统的所有功能，包括各种AFM成像模式和极其易用的布鲁克专用的ScanAsyst®。您可以为您的应用程序定制最有效的组合模式。
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。