布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率，以及一系列独特的技术，包括峰值力轻敲模式、数据立方体模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系统可提供最强的性能和功能。Dimension XR 系列将这些技术整合提供完整的解决方案，以满足纳米力学、纳米电气和纳米电化学应用的需求。在空气、流体、电气或化学反应环境中对材料和纳米尺度系统的定量研究从未如此简单。
针对高级研究的优化配置
XR纳米力学
XR纳米力学提供一系列高级应用模式，其亚分子分辨率单可实现聚合物链的最小结构基元的全面研究。研究人员将纳米力学数据与宏观尺度动态力学分析和纳米压痕研究与布鲁克专有的AFM-nDMA™模式关联。从软粘性水凝胶和复合材料到硬质金属和陶瓷，都实现可定量的纳米尺度表征。
XR纳米电学
Dimension XR的纳米电学套装涵盖了最广泛的AFM电学技术。研究人员利用专有的 DataCube 模式，能捕获每个像素点的电学信息，并于力学性能表征结果相关联，从而提供了过去单个测量条件下无法获得的信息。
XR纳米电化学
Dimension XR纳米电化学配置可实现基于 AFM的稳定的扫描电化学显微镜（AFM-SECM）和电化学 AFM（EC-AFM）功能。研究者在这套系统中可同时采集材料的纳米级电化学、电学和力学性能。
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。