Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择， 其测试功能强大，操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
高性能和高分辨率
Dimension® Icon™优秀的分辨率，与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension® Icon™是针尖扫描技术的最新革新，一直处于领先地位。该系统配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。配置Bruker 专利的PeakForce®技术，Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。